本發(fā)明公開(kāi)了液壓加載試驗(yàn)機(jī)的材料水平斷裂檢測(cè)方法,包括材料水平斷裂檢測(cè)方法與材料斷裂檢測(cè)算法。本發(fā)明還公開(kāi)了一種液壓加載試驗(yàn)機(jī)的材料水平斷裂安全處理控制方法,包括材料斷裂安全處理措施與安全處理控制方法。通過(guò)本發(fā)明,解決了材料試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)中材料斷裂后對(duì)材料進(jìn)行二次加載造成損傷、以及材料二次加載過(guò)程造成爆炸事故、過(guò)程不可控等問(wèn)題,滿足實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)科研生產(chǎn)對(duì)材料負(fù)荷強(qiáng)度測(cè)量、特別是危險(xiǎn)材料的負(fù)荷強(qiáng)度安全、可控、材料無(wú)損傷測(cè)量需求。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了含能材料負(fù)荷強(qiáng)度測(cè)量功能,滿足了含能材料負(fù)荷強(qiáng)度測(cè)量過(guò)程中安全、可控、對(duì)材料無(wú)二次損傷要求。
本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種用于線圈法磁粉檢測(cè)的試件以及該試件的檢測(cè)方法。檢測(cè)方法,包括以下步驟:將試件固定在磁探檢測(cè)臺(tái)兩個(gè)夾頭之間,使試件位于線圈的中心位置并保持水平;對(duì)線圈通電形成磁場(chǎng)并對(duì)試件施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長(zhǎng)度;依據(jù)公式計(jì)算出磁粉檢測(cè)深度。本發(fā)明所提供的試件能夠用于線圈法磁粉檢測(cè)近表面環(huán)向缺陷可檢深度,該試件的檢測(cè)方法,能夠用于檢測(cè)鐵磁性材料縱長(zhǎng)工件近表面環(huán)向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗(yàn)證,優(yōu)化線圈法磁粉檢測(cè)工藝參數(shù),提高該類型工件近表面環(huán)向缺陷檢測(cè)能力。
一種光學(xué)元件亞表面缺陷的多通道原位檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法,用于玻璃等光學(xué)元件缺陷測(cè)試。該裝置包括由熒光共聚焦成像系統(tǒng)、熒光壽命成像系統(tǒng)、光熱吸收成像系統(tǒng)三個(gè)通道構(gòu)成,可一次性實(shí)現(xiàn)光學(xué)元件亞表面微納缺陷幾何形態(tài)、光致熒光、光熱吸收特性的原位測(cè)試。本發(fā)明具有裝置結(jié)構(gòu)緊湊、檢測(cè)通用性強(qiáng)、穩(wěn)定性高的特點(diǎn),適用于亞表面缺陷的高靈敏度無(wú)損檢測(cè)。
本實(shí)用新型提供了一種金屬管道應(yīng)力磁檢測(cè)儀,該方案包括弱磁信號(hào)采集部分、GPS定位信號(hào)部分、定距離信號(hào)發(fā)生裝置、信號(hào)處理部分、信號(hào)顯示部分、檢測(cè)數(shù)據(jù)無(wú)線傳輸部分、SD存儲(chǔ)卡;該方案采用三軸梯度磁力儀或三維磁場(chǎng)傳感器采集金屬管道的弱磁信號(hào);采用GPS記錄檢測(cè)儀的位置和路徑;定距離信號(hào)發(fā)生裝置發(fā)出采集弱磁信號(hào)的記錄指令,記錄檢測(cè)位置距參照物之間的精確距離;采集的弱磁信號(hào)經(jīng)由微處理器進(jìn)行數(shù)字處理、運(yùn)算、儲(chǔ)存,將處理后的弱磁信號(hào)顯示在觸摸屏上;檢測(cè)數(shù)據(jù)可通過(guò)無(wú)線方式實(shí)時(shí)傳送到數(shù)據(jù)分析中心。該方案能夠在不對(duì)構(gòu)件表面進(jìn)行清理的情況下對(duì)鐵磁性金屬構(gòu)件進(jìn)行診斷,防止突發(fā)性的疲勞破壞,是無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的一種新的設(shè)備。
本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種用于軸向通電法磁粉檢測(cè)的試件以及該試件的檢測(cè)方法。檢測(cè)方法包括以下步驟:將試件固定在磁探檢測(cè)臺(tái)兩個(gè)夾頭之間并使試件保持水平;對(duì)試件通電磁化并施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長(zhǎng)度;依據(jù)公式計(jì)算出磁粉檢測(cè)深度。本發(fā)明所提供的試件能夠用于軸向通電法磁粉檢測(cè)近表面縱向缺陷的可檢深度;該試件的檢測(cè)方法,能夠用于制定合適可行的軸向通電法磁粉檢測(cè)工藝,用于檢測(cè)鐵磁性實(shí)心和空心工件近表面縱向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗(yàn)證,優(yōu)化軸向通電法磁粉工藝參數(shù),提高該類型工件近表面縱向缺陷檢測(cè)能力。
本發(fā)明屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開(kāi)了一種用于中心導(dǎo)體法磁粉檢測(cè)的試件以及該試件的檢測(cè)方法,檢測(cè)方法包括將導(dǎo)體放置在磁探檢測(cè)臺(tái)兩個(gè)夾頭之間,試件套在導(dǎo)體上,用支撐工件固定試件使導(dǎo)體位于試件的中心位置;對(duì)導(dǎo)體通電磁化并施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長(zhǎng)度;依據(jù)公式計(jì)算出磁粉檢測(cè)深度。本發(fā)明的試件能夠用于中心導(dǎo)體法磁粉檢測(cè)內(nèi)壁近表面縱向缺陷的可檢深度,該試件的檢測(cè)方法能夠用于制定合適可行的中心導(dǎo)體法磁粉檢測(cè)工藝,用于檢測(cè)鐵磁性材料管子等空心件的內(nèi)壁近表面縱向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗(yàn)證,優(yōu)化中心導(dǎo)體法磁粉檢測(cè)工藝參數(shù),提高該類型工件的內(nèi)壁近表面縱向缺陷檢測(cè)能力。
本發(fā)明公開(kāi)了一種顆粒材料沖擊波感度試驗(yàn)的無(wú)損制樣方法,具體操作步驟如下:(1)根據(jù)隔板試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)方法加工制作滿足尺寸要求的試樣套筒,(2)稱量空的試樣套筒質(zhì)量m1,(3)將待測(cè)試的散狀試樣顆粒振實(shí)裝填在試樣套筒內(nèi),(4)稱量試樣顆粒裝填后的試樣套筒質(zhì)量m2,(5)將裝填后的試樣套筒放入盛有浸潤(rùn)液的容器內(nèi)充分浸潤(rùn)。該制樣方法不會(huì)對(duì)試樣顆粒的晶體顆粒破碎,制樣方法簡(jiǎn)單,消除了顆粒間孔隙對(duì)于沖擊波感度測(cè)試結(jié)果的影響,真實(shí)反映了試樣顆粒特性對(duì)于沖擊波感度的影響,可以顯著區(qū)分不同晶體品質(zhì)含能晶體顆粒材料的沖擊波感度。
本發(fā)明公開(kāi)了一種全自動(dòng)柱狀鐵磁性工件熒光磁粉無(wú)損探傷系統(tǒng),該系統(tǒng)主要包括全自動(dòng)上下料系統(tǒng)、磁痕圖像獲取系統(tǒng)、工件缺陷智能識(shí)別系統(tǒng)、磁懸液濃度測(cè)量及污染檢測(cè)系統(tǒng),自動(dòng)完成從生產(chǎn)線的工件集總正位、傳送、磁化、磁懸液浸染、磁痕圖像獲取、缺陷判定。本發(fā)明通過(guò)設(shè)計(jì)的機(jī)械裝置,使柱狀工件在重力作用下自動(dòng)完成上料排序及正位,避免通常使用的振動(dòng)盤(pán)方式排序工件,避免工件收到二次碰撞損傷,同時(shí),工件表面的磁懸液沾染過(guò)程采用浸染式而非傳統(tǒng)的噴淋式,在使工件表面更加均勻沾染磁懸液的同時(shí),排除噴淋式帶來(lái)的液滴飛濺弄臟相機(jī)鏡頭及磁懸液霧化使相機(jī)鏡頭模糊的影響,從而提升了磁痕圖像質(zhì)量及系統(tǒng)的應(yīng)用性。
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種快速無(wú)損采集水果質(zhì)地信息的裝置。所述裝置包括兩塊具有高度差的支撐板和、傾斜碰撞板、固定臺(tái)面和傳感器;兩塊支撐板采用螺柱豎直地固定在水平的固定臺(tái)面上,傾斜碰撞板兩端分別采用螺釘與兩塊支撐板的頂部固定,兩塊支撐板的高度不同使得傾斜碰撞板與水平面之間呈傾斜布置,傳感器固定安裝在傾斜碰撞板背面。本實(shí)用新型通過(guò)采用水果自由跌落撞擊傾斜碰撞板的方式獲取水果的振動(dòng)信息從而采集水果質(zhì)地信息,不破壞被測(cè)樣本,檢測(cè)效率高,極大地降低了檢測(cè)設(shè)備成本。
一種蠶繭無(wú)損速評(píng)儀,主要由操作臺(tái),稱量裝置,流量計(jì),解舒率表,真空機(jī),由傳感器、測(cè)量電路和顯示器構(gòu)成的繭層水分測(cè)定裝置,以及由絕緣底盤(pán)、一組頂繭桿和真空分流管等構(gòu)成的盛繭盤(pán)組成;采用本發(fā)明,可綜合檢測(cè)蠶繭的干殼量、解舒率、好繭率、繭層含水率等蠶繭質(zhì)量指標(biāo),一機(jī)多用,不切剖蠶繭,測(cè)試簡(jiǎn)便、直觀、快速、準(zhǔn)確。
本發(fā)明公開(kāi)了一種無(wú)損評(píng)價(jià)光學(xué)元件損傷性能的方法,連續(xù)激光器能發(fā)出連續(xù)激光,經(jīng)第一能量調(diào)節(jié)器、第一透鏡、反射鏡、樣品正面后,照射到樣品背面,連續(xù)激光經(jīng)樣品反射的反射方向上設(shè)有殘余激光收集器;脈沖激光器能發(fā)出脈沖激光,經(jīng)第二能量調(diào)節(jié)器、縮束系統(tǒng)、劈板、第二透鏡后,照射到樣品背面。本發(fā)明通過(guò)對(duì)于待測(cè)光學(xué)元件相同的元件,進(jìn)行多樣品、多位置的測(cè)試,獲得此類光學(xué)元件中,熒光缺陷數(shù)據(jù)與激光損傷閾值和損傷密度的關(guān)聯(lián)關(guān)系,從而對(duì)待測(cè)樣品進(jìn)行測(cè)量時(shí),通過(guò)測(cè)量其熒光缺陷數(shù)據(jù),從而推算出損傷閾值和損傷密度。該方法可以通過(guò)無(wú)損檢測(cè)光學(xué)元件的熒光缺陷獲得光學(xué)元件的損傷性能水平,實(shí)現(xiàn)光學(xué)元件損傷性能的無(wú)損評(píng)價(jià)。
本發(fā)明公開(kāi)了一種高溫接觸熱阻的無(wú)損快速測(cè)量方法,根據(jù)介質(zhì)溫度?超聲傳播特性,采用超聲回波法,獲得瞬態(tài)傳熱條件下超聲傳播時(shí)間,優(yōu)化求解熱傳導(dǎo)反問(wèn)題,可快速、無(wú)損、非接觸地測(cè)量隨溫度變化的界面接觸熱阻參數(shù)。本發(fā)明的方法所需測(cè)量裝置簡(jiǎn)單、測(cè)量周期短,且不需要傳感器與被測(cè)試件接觸,避免了傳感器與被測(cè)試件接觸的干擾以及測(cè)量范圍受到傳感器耐高溫性能的限制。
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于超聲波的瞬態(tài)轉(zhuǎn)捩熱流的無(wú)損探測(cè)方法,本發(fā)明基于超聲波在固體結(jié)構(gòu)中的傳播時(shí)間,通過(guò)求解波傳播路徑和熱傳導(dǎo)反問(wèn)題,反演導(dǎo)致結(jié)構(gòu)溫度變化的瞬態(tài)轉(zhuǎn)捩熱流,同時(shí),較為精確的計(jì)算出轉(zhuǎn)捩位置。本發(fā)明公開(kāi)的超聲無(wú)損探測(cè)方法,無(wú)需破壞結(jié)構(gòu),有效的保證了結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度和剛度,直接求解超聲波路徑方程和二維熱傳導(dǎo)反問(wèn)題,減小了轉(zhuǎn)捩熱流測(cè)量的原理性誤差,實(shí)時(shí)性強(qiáng),分辨率高、穩(wěn)定性好,可實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)捩熱流和轉(zhuǎn)捩位置的同時(shí)高精度測(cè)量。
本發(fā)明的部件物相成分深度分布無(wú)損測(cè)量方法,使用中子源和探測(cè)器在樣品同側(cè)布置形成的反射式衍射幾何布局,分別通過(guò)四維臺(tái)和探測(cè)器進(jìn)行測(cè)點(diǎn)位置選取和數(shù)據(jù)信號(hào)采集,從而實(shí)現(xiàn)部件內(nèi)部不同位置物相成分分布的無(wú)損測(cè)量。根據(jù)樣品規(guī)格和重量等實(shí)際情況選取適宜的四維臺(tái)及安裝方式進(jìn)行測(cè)點(diǎn)尺寸限定,通過(guò)探測(cè)器收集來(lái)樣品內(nèi)部不同測(cè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)信號(hào)并分析得到對(duì)應(yīng)的物相和成分信息。本發(fā)明的部件物相成分深度分布無(wú)損測(cè)量方法,適用于部件級(jí)樣品內(nèi)部不同位置物相成分分布的無(wú)損測(cè)量。
本發(fā)明公開(kāi)了一種聲學(xué)振動(dòng)快速無(wú)損測(cè)定水果貨架期或最佳食用期的方法。方法包括采集建模樣品集、測(cè)定質(zhì)量、采集振動(dòng)響應(yīng)信號(hào)、水果品質(zhì)檢測(cè)、提取振動(dòng)特征參數(shù)、計(jì)算各貯藏溫度下振動(dòng)特征參數(shù)變化速率、貨架期或最佳食用期預(yù)測(cè)模型的建立、待測(cè)水果的測(cè)定等步驟。本發(fā)明通過(guò)聲學(xué)振動(dòng)處理,采用無(wú)損檢測(cè)的方式,實(shí)現(xiàn)水果貨架期和最佳可食用期的準(zhǔn)確測(cè)定,能實(shí)現(xiàn)水果樣本的快速個(gè)體檢測(cè)并避免浪費(fèi)。
本發(fā)明公開(kāi)了一種基于差壓原理的無(wú)損檢漏方法及裝置,包括:充氣步驟:選取與待檢密封容器相同的基準(zhǔn)物,測(cè)量基準(zhǔn)物漏率;密封步驟:將待檢密封容器及基準(zhǔn)物分別裝入兩個(gè)相同的檢測(cè)罐體內(nèi)并密封;抽氣步驟:將檢測(cè)罐體內(nèi)部與待檢密封容器之間的腔體、測(cè)罐體內(nèi)部與基準(zhǔn)物之間的腔體均抽至檢漏所需壓力形成真空室;累積步驟:關(guān)閉抽氣閥門(mén),平衡預(yù)設(shè)時(shí)間段后打開(kāi)隔離閥門(mén),開(kāi)始累積,通過(guò)差壓傳感器測(cè)量累積前后兩個(gè)檢測(cè)罐體內(nèi)部的壓力差,計(jì)算出待檢密封容器的整體漏率,本方法及裝置無(wú)需對(duì)待檢密封容器內(nèi)部充氣或抽氣,檢漏過(guò)程不破壞密封容器內(nèi)部原有氣氛,能夠?qū)崿F(xiàn)該類產(chǎn)品的無(wú)損檢漏。
本實(shí)用新型提供了一種適用于乏燃料棒無(wú)損檢測(cè)的工業(yè)CT后準(zhǔn)直器,該方案包括有蓋板、準(zhǔn)直體和位移裝置;蓋板為兩片,準(zhǔn)直體固定在兩片蓋板之間形成準(zhǔn)直機(jī)構(gòu);準(zhǔn)直機(jī)構(gòu)設(shè)置在位移裝置上;位移裝置能夠驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直機(jī)構(gòu)橫向移動(dòng)以及旋轉(zhuǎn)。該方案采用位移裝置驅(qū)動(dòng)準(zhǔn)直器機(jī)構(gòu)運(yùn)動(dòng),能夠滿足射線出束角度的要求,又能夠滿足整臺(tái)工業(yè)CT系統(tǒng)的相對(duì)幾何位置關(guān)系。
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種聚合物材料老化效應(yīng)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),包括熱腔模塊和吸收模塊,熱腔模塊的側(cè)面設(shè)置連接所述吸收模塊,述熱腔模塊為一中空可開(kāi)啟的密封腔體,腔體內(nèi)部正中有一天平,所述天平上方可盛放待測(cè)試聚合物材料,熱腔模塊與所述吸收模塊之間為絕熱隔層,隔層下部有一管道與所述吸收模塊內(nèi)的吸收杯下部直接連接,管道為密閉管道,所述吸收杯內(nèi)可盛放一定質(zhì)量的吸收劑;本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單、便于實(shí)際操控,應(yīng)用于檢測(cè)時(shí)通過(guò)對(duì)溫度和壓力的控制不會(huì)對(duì)待測(cè)聚合物部組件及其材料造成任何破壞,且檢測(cè)前后的機(jī)械性能和外觀狀態(tài)無(wú)任何差異,對(duì)老化效應(yīng)程度及演化趨勢(shì)的判斷快捷,尤其適用于有效宏觀性能或微觀結(jié)構(gòu)變化不明顯的老化情況。
本發(fā)明公開(kāi)了一種應(yīng)用于大型壓力容器紅外無(wú)損檢測(cè)的SIFT圖像拼接方法,包括以下步驟:采集紅外視頻流;采用紅外熱像儀記錄構(gòu)建表面溫度分布得到圖像序列構(gòu)成紅外成像視頻流;視頻流信號(hào)處理獲得重構(gòu)圖像;使用PCA?SIFT算法獲得拼接圖像特征描述算子;對(duì)特征點(diǎn)對(duì)進(jìn)行以余弦值為度量的粗匹配;對(duì)獲得的粗匹配點(diǎn)對(duì)進(jìn)行RANSAC去誤匹配;對(duì)圖像進(jìn)行仿射變換;對(duì)被測(cè)圖像利用H變換矩陣進(jìn)行旋轉(zhuǎn),平移,縮放操作,從而獲得基準(zhǔn)圖像對(duì)應(yīng)的拼接圖像;對(duì)拼接圖像亮度進(jìn)行調(diào)整;對(duì)圖像進(jìn)行漸入漸出融合;仿真驗(yàn)證算法的拼接效果,對(duì)大型壓力容器進(jìn)行拼接實(shí)驗(yàn);本發(fā)明在保留特征點(diǎn)的主要特征信息的同時(shí)減少計(jì)算復(fù)雜度,提高了程序的運(yùn)行速度。
本發(fā)明公開(kāi)一種大曲率微小件表面多層金屬薄膜的無(wú)損檢測(cè)方法,包括以下步驟:S1:采用同步輻射X射線微束技術(shù)對(duì)樣品進(jìn)行檢測(cè);S2:采用切入射方法獲得表面金屬膜層的衍射信號(hào),通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)樣品,使樣品與入射X射線相切,入射X射線與樣品表面夾角趨近于0°,進(jìn)而獲得表面金屬膜層的衍射信號(hào);S3:采用掠入射方法獲得中間金屬膜層的衍射信號(hào),通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)樣品,使樣品中間層與入射X射線形成夾角,夾角小于5°,進(jìn)而獲得中間層金屬薄膜鍍層的衍射信號(hào);S4:采用透射方法對(duì)衍射信號(hào)進(jìn)行校準(zhǔn),此時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)樣品,使X射線水平穿透2層復(fù)合鍍層,從而獲得2套衍射信號(hào)以輔助校準(zhǔn);采用具有高亮度的同步輻射光源和同步輻射微束技術(shù)獲得微米級(jí)的空間分辨率。
本實(shí)用新型公開(kāi)了用于無(wú)損檢測(cè)的夾持組件,包括第一旋轉(zhuǎn)卡盤(pán)、第二旋轉(zhuǎn)卡盤(pán)、工件夾緊回轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、工件夾緊機(jī)構(gòu);工件夾緊回轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)包括第一基座、第一軸承機(jī)座,第一旋轉(zhuǎn)卡盤(pán)連接在第一軸承機(jī)座上,第一軸承機(jī)座與第一基座通過(guò)軸線豎直的螺栓連接,螺栓與第一基座螺紋配合;工件夾緊機(jī)構(gòu)包括第二基座、第二軸承機(jī)座,第二旋轉(zhuǎn)卡盤(pán)連接在第二軸承機(jī)座上,第二軸承機(jī)座與第二基座通過(guò)軸線豎直的螺栓連接,螺栓與第二基座螺紋配合。本實(shí)用新型用以解決現(xiàn)有技術(shù)中CT無(wú)損檢測(cè)中的夾持組件可調(diào)性差,且難以保證被夾持的工件水平的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)能夠滿足對(duì)各種長(zhǎng)度的工件的夾持需求、同時(shí)靈活調(diào)整工件水平度的目的。
本實(shí)用新型為一種對(duì)各種材料和器件表面進(jìn)行無(wú)損缺陷檢測(cè)的裝置,特別是采用渦流法進(jìn)行檢測(cè)的磁光渦流成像無(wú)損檢測(cè)裝置,由架體縱向固定的半導(dǎo)體激光光源、偏振分光器、磁感應(yīng)器及磁感應(yīng)器下端固定的法拉第旋轉(zhuǎn)元件和架體橫向固定的偏振分光器、偏振片、凸透鏡、成像顯示器構(gòu)成,其中,偏振分光器在縱、橫架體的交叉點(diǎn)上,偏振分光器沿45°角鍍有下層單向反光膜。本實(shí)用新型與現(xiàn)有渦流檢測(cè)相比優(yōu)點(diǎn)是:檢測(cè)準(zhǔn)確度高,是現(xiàn)有渦流檢測(cè)效率的5-50倍;檢測(cè)時(shí)無(wú)需對(duì)被測(cè)件表面油漆等清除;檢測(cè)結(jié)果圖象化,直觀易懂,可通過(guò)錄象保存。
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種接觸式無(wú)損檢測(cè)表面缺陷的裝置,包括:透明塑料操作柜;水平移動(dòng)組件,其設(shè)置在透明塑料操作柜內(nèi);升降組件,其水平設(shè)置在所述水平移動(dòng)組件的上方;力檢測(cè)組件,其與所述升降組件的升降端固定連接;滴液管,其與所述力檢測(cè)組件固定連接,且所述滴液管位于所述水平移動(dòng)組件的上方;數(shù)據(jù)控制處理終端,其位于所述透明塑料操作柜外,且所述數(shù)據(jù)控制處理終端分別與水平移動(dòng)組件、力檢測(cè)組件、升降組件電通信連接。本實(shí)用新型,通過(guò)液滴進(jìn)行接觸式無(wú)損檢測(cè)表面缺陷,可以在各種材料的樣品上進(jìn)行檢測(cè),具有無(wú)損檢測(cè)、檢測(cè)效果穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、適用性強(qiáng)的有益效果。
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種可調(diào)式無(wú)損檢測(cè)收發(fā)組合,射線源系統(tǒng)包括加速器懸臂、第一直線導(dǎo)軌、加速器機(jī)架,加速器機(jī)架內(nèi)設(shè)置加速器升降導(dǎo)軌、加速器;加速器機(jī)架由第一驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)沿第一直線導(dǎo)軌進(jìn)行移動(dòng),加速器由第二驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)沿加速器升降導(dǎo)軌進(jìn)行移動(dòng);探測(cè)器系統(tǒng)包括探測(cè)器懸臂、第二直線導(dǎo)軌、探測(cè)器機(jī)架,探測(cè)器機(jī)架內(nèi)設(shè)置探測(cè)器升降導(dǎo)軌、探測(cè)器;探測(cè)器機(jī)架由第三驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)沿第二直線導(dǎo)軌進(jìn)行移動(dòng),探測(cè)器由第四驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)沿探測(cè)器升降導(dǎo)軌進(jìn)行移動(dòng)。本實(shí)用新型用以解決現(xiàn)有技術(shù)中CT無(wú)損檢測(cè)設(shè)備可調(diào)性差、適用范圍窄的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)便于靈活調(diào)整射線源與探測(cè)器之間的相對(duì)位置,增大適用范圍、提高通用性的目的。
本發(fā)明公開(kāi)了一種紅外無(wú)損檢測(cè)的熱圖像缺陷特征增強(qiáng)處理方法,在本發(fā)明中,一種用于紅外無(wú)損檢測(cè)的熱圖像增強(qiáng)處理技術(shù)被應(yīng)用到特燃承壓設(shè)備表面無(wú)損檢測(cè)中。為了更完善,更有效率的提取缺陷特征,一種新的算法在發(fā)明中對(duì)試件進(jìn)行處理分析。新的算法包括了復(fù)雜的數(shù)值分析計(jì)算,模糊運(yùn)算,利用了峰態(tài)系數(shù)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,從而提高了缺陷檢測(cè)的多樣性,以及檢測(cè)方法的有效性。
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種車(chē)載CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),包括檢測(cè)系統(tǒng)車(chē),測(cè)控車(chē),線纜,所述檢測(cè)系統(tǒng)車(chē)包括第一車(chē)體,所述第一車(chē)體內(nèi)設(shè)置射線源系統(tǒng)、探測(cè)器系統(tǒng)、夾持組件,所述夾持組件用于夾持被測(cè)工件,所述射線源系統(tǒng)用于放出射線,所述探測(cè)器系統(tǒng)用于接收穿過(guò)被測(cè)工件后的射線;所述測(cè)控車(chē)包括第二車(chē)體,所述第二車(chē)體內(nèi)設(shè)置測(cè)控監(jiān)控系統(tǒng),所述測(cè)控監(jiān)控系統(tǒng)與探測(cè)器系統(tǒng)之間通過(guò)線纜連接。本實(shí)用新型的目的在于提供一種車(chē)載CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng),以解決現(xiàn)有技術(shù)中CT無(wú)損檢測(cè)不利于檢測(cè)人員作業(yè)安全的問(wèn)題,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離控制操作,分級(jí)防護(hù)、確保檢測(cè)人員作業(yè)安全的目的。
本發(fā)明公開(kāi)了一種接觸式無(wú)損檢測(cè)表面缺陷的裝置,包括:透明塑料操作柜;水平移動(dòng)組件,其設(shè)置在透明塑料操作柜內(nèi);升降組件,其水平設(shè)置在所述水平移動(dòng)組件的上方;力檢測(cè)組件,其與所述升降組件的升降端固定連接;滴液管,其與所述力檢測(cè)組件固定連接,且所述滴液管位于所述水平移動(dòng)組件的上方;數(shù)據(jù)控制處理終端,其位于所述透明塑料操作柜外,且所述數(shù)據(jù)控制處理終端分別與水平移動(dòng)組件、力檢測(cè)組件、升降組件電通信連接。本發(fā)明通過(guò)液滴接觸式無(wú)損檢測(cè)表面缺陷,可以在各種材料的樣品上進(jìn)行檢測(cè),具有無(wú)損檢測(cè)、檢測(cè)效果穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、適用性強(qiáng)的有益效果。
本發(fā)明涉及一種六硝基六氮雜異伍茲烷晶型的無(wú)損檢測(cè)方法及系統(tǒng),先獲取待測(cè)樣品的太赫茲光譜,并對(duì)太赫茲光譜進(jìn)行處理,繪制待測(cè)樣品的吸收光譜圖,最終對(duì)比待測(cè)樣品的吸收光譜圖與標(biāo)準(zhǔn)樣品的吸收光譜圖,確定待測(cè)樣品的晶型。本發(fā)明將太赫茲光譜技術(shù)應(yīng)用于炸藥晶型檢測(cè)領(lǐng)域,以實(shí)現(xiàn)典型單質(zhì)炸藥CL?20樣品晶型的無(wú)損檢測(cè)。
本發(fā)明的實(shí)施例公開(kāi)一種基于電渦流脈沖熱成像的無(wú)損檢測(cè)方法及系統(tǒng),方法包括:通過(guò)初始加熱脈沖信號(hào)控制感應(yīng)加熱器產(chǎn)生高頻交流電,結(jié)合感應(yīng)線圈提供電渦流激勵(lì)以加熱被測(cè)樣件;測(cè)量被測(cè)樣件的紅外熱輻射以獲取被測(cè)樣件的表面熱分布,并依據(jù)表面熱分布得到紅外熱成像圖序列并進(jìn)行處理,獲取被測(cè)樣件的預(yù)定采樣點(diǎn)的采樣溫度;如果所述采樣溫度不小于預(yù)先設(shè)置的無(wú)損檢測(cè)高溫閾值,向脈沖發(fā)生器輸出停止加熱指令,如果所述采樣溫度不大于預(yù)先設(shè)置的無(wú)損檢測(cè)低溫閾值,向脈沖發(fā)生器輸出啟動(dòng)加熱指令;依據(jù)停止加熱指令控制感應(yīng)加熱器斷開(kāi)電源,依據(jù)加熱指令控制感應(yīng)加熱器啟動(dòng)電源產(chǎn)生高頻交流電。應(yīng)用本發(fā)明,可以提升加熱的溫度控制精度。
本發(fā)明公開(kāi)了光學(xué)元件強(qiáng)激光損傷特性的無(wú)損檢測(cè)與評(píng)價(jià)方法,旨在解決現(xiàn)有技術(shù)不能通過(guò)無(wú)損檢測(cè)評(píng)價(jià)光學(xué)元件激光損傷特性的難題。本發(fā)明包括:通過(guò)實(shí)驗(yàn)獲得光學(xué)元件的無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)以及強(qiáng)激光作用下發(fā)生損傷的激光參數(shù);將無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)與損傷測(cè)試結(jié)果作為特征量,使用深度學(xué)習(xí)方法,根據(jù)無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)、激光參數(shù)及損傷測(cè)試結(jié)果,獲得光學(xué)元件激光損傷特性的檢測(cè)評(píng)價(jià)模型;將待檢測(cè)的光學(xué)元件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè),將獲得的無(wú)損檢測(cè)數(shù)據(jù)和激光參數(shù)作為檢測(cè)評(píng)價(jià)模型的輸入量,從而獲得該光學(xué)元件的激光損傷特性檢測(cè)結(jié)果,實(shí)現(xiàn)強(qiáng)激光損傷特性的無(wú)損檢測(cè)與評(píng)價(jià)。
中冶有色為您提供最新的四川綿陽(yáng)有色金屬理論與應(yīng)用信息,涵蓋發(fā)明專利、權(quán)利要求、說(shuō)明書(shū)、技術(shù)領(lǐng)域、背景技術(shù)、實(shí)用新型內(nèi)容及具體實(shí)施方式等有色技術(shù)內(nèi)容。打造最具專業(yè)性的有色金屬技術(shù)理論與應(yīng)用平臺(tái)!