本實(shí)用新型為一種對(duì)各種材料和器件表面進(jìn)行無損缺陷檢測(cè)的裝置,特別是采用渦流法進(jìn)行檢測(cè)的磁光渦流成像無損檢測(cè)裝置,由架體縱向固定的半導(dǎo)體激光光源、偏振分光器、磁感應(yīng)器及磁感應(yīng)器下端固定的法拉第旋轉(zhuǎn)元件和架體橫向固定的偏振分光器、偏振片、凸透鏡、成像顯示器構(gòu)成,其中,偏振分光器在縱、橫架體的交叉點(diǎn)上,偏振分光器沿45°角鍍有下層單向反光膜。本實(shí)用新型與現(xiàn)有渦流檢測(cè)相比優(yōu)點(diǎn)是:檢測(cè)準(zhǔn)確度高,是現(xiàn)有渦流檢測(cè)效率的5-50倍;檢測(cè)時(shí)無需對(duì)被測(cè)件表面油漆等清除;檢測(cè)結(jié)果圖象化,直觀易懂,可通過錄象保存。
聲明:
“磁光渦流成像無損檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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