本發(fā)明涉及一種六硝基六氮雜異伍茲烷晶型的無損檢測(cè)方法及系統(tǒng),先獲取待測(cè)樣品的太赫茲光譜,并對(duì)太赫茲光譜進(jìn)行處理,繪制待測(cè)樣品的吸收光譜圖,最終對(duì)比待測(cè)樣品的吸收光譜圖與標(biāo)準(zhǔn)樣品的吸收光譜圖,確定待測(cè)樣品的晶型。本發(fā)明將太赫茲光譜技術(shù)應(yīng)用于炸藥晶型檢測(cè)領(lǐng)域,以實(shí)現(xiàn)典型單質(zhì)炸藥CL?20樣品晶型的無損檢測(cè)。
聲明:
“六硝基六氮雜異伍茲烷晶型的無損檢測(cè)方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)