本發(fā)明創(chuàng)造提供一種利用超聲波A掃描判斷風(fēng)力發(fā)電葉片結(jié)構(gòu)缺陷的方法,包括采用與風(fēng)電葉片相同的材料制作若干對(duì)比試塊,利用超聲波A掃描分別探測(cè)對(duì)比試塊,獲得具有特征波群的完好部位波形圖以及缺陷部位波形圖,并將待測(cè)部位波形圖所述完好部位波形圖或缺陷部位波形圖進(jìn)行對(duì)比,獲得待測(cè)風(fēng)電葉片的待測(cè)部位的缺陷信息的過(guò)程。本發(fā)明提供的方法簡(jiǎn)單可靠,適用于樹(shù)脂基玻璃纖維
復(fù)合材料結(jié)構(gòu)的風(fēng)力發(fā)電葉片的檢測(cè)。
聲明:
“利用超聲波A掃描判斷風(fēng)力發(fā)電葉片結(jié)構(gòu)缺陷的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)