本發(fā)明公開一種
復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)制孔區(qū)檢測(cè)方法、試塊及制作方法,其中該試塊制作方法包括:獲取待檢測(cè)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)的層數(shù),并提供與所述待檢測(cè)復(fù)合材料層數(shù)相同的試塊鋪層;提供多個(gè)缺陷膜片,并將所述多個(gè)缺陷膜片設(shè)于所述試塊鋪層之間;按照與所述待檢測(cè)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)相同的鋪疊工藝將所述缺陷膜片和所述試塊鋪層進(jìn)行鋪疊;利用超聲波檢測(cè)設(shè)備對(duì)所述試塊進(jìn)行檢測(cè),并記錄所述試塊中的缺陷位置;按照所述缺陷位置,采用與所述待檢測(cè)復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)制孔區(qū)原始制孔相同的制孔工藝及制孔參數(shù)在所述缺陷位置進(jìn)行制孔。利用該試塊來(lái)對(duì)檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)工藝、檢測(cè)技術(shù)以及檢測(cè)人員等檢測(cè)能力進(jìn)行評(píng)估時(shí)更加的準(zhǔn)確。
聲明:
“復(fù)合材料層壓結(jié)構(gòu)制孔區(qū)檢測(cè)方法、試塊及制作方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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