本發(fā)明涉及一種
復(fù)合材料超聲C掃缺陷面積確定方法,包括:獲取復(fù)合材料產(chǎn)品的二值化超聲C掃圖;基于所述復(fù)合材料產(chǎn)品的二值化超聲C掃圖,分別確定復(fù)合材料產(chǎn)品長(zhǎng)度方向和寬度方向的像素比例系數(shù)K1和K2;對(duì)于復(fù)合材料的超聲C掃圖上的各個(gè)缺陷,獲取各個(gè)缺陷包含的像素的個(gè)數(shù)和,基于所述各個(gè)缺陷包含的像素的個(gè)數(shù)和以及K1和K2,獲取各個(gè)缺陷的面積;對(duì)各個(gè)缺陷面積求和得到缺陷總面積。該方法實(shí)現(xiàn)了復(fù)合材料超聲C掃缺陷面積準(zhǔn)確、快速地計(jì)算,且工作量小,滿足復(fù)合材料產(chǎn)品內(nèi)部質(zhì)量控制要求。
聲明:
“復(fù)合材料超聲C掃缺陷面積確定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)