本發(fā)明涉及鋰離子電池檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種基于拉曼光譜檢測(cè)的隔膜異常點(diǎn)分析方法,包括以下步驟:S1、拆解電池獲得有異常點(diǎn)的待測(cè)電池隔膜;S2、開(kāi)啟拉曼測(cè)試儀并使用標(biāo)準(zhǔn)硅片校準(zhǔn)至使用標(biāo)準(zhǔn);S3、將待測(cè)隔膜的異常點(diǎn)處置于檢測(cè)區(qū)域內(nèi);S4、使用顯微系統(tǒng)找到異常點(diǎn),調(diào)整亮度和焦距并保存異常點(diǎn)位置顯微圖片;S5、使用拉曼測(cè)試儀對(duì)隔膜異常點(diǎn)進(jìn)行全譜掃描,并在隔膜異常點(diǎn)選取采集位置進(jìn)行單光譜采集;S6、根據(jù)異常點(diǎn)拉曼位移數(shù)據(jù)設(shè)置光譜成像的中心,光譜成像區(qū)域的大小、步長(zhǎng)、成像點(diǎn)數(shù)后進(jìn)行拉曼光譜成像采集;S7、保存測(cè)試數(shù)據(jù),并進(jìn)行數(shù)據(jù)擬合分析。通過(guò)使用本發(fā)明方法解決了現(xiàn)有電鏡和能譜分析無(wú)法檢測(cè)導(dǎo)電性差的隔膜的問(wèn)題。
聲明:
“基于拉曼光譜檢測(cè)的隔膜異常點(diǎn)分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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