本發(fā)明提供了一種利用視電導(dǎo)率和電阻率圈定不良地質(zhì)體邊界的方法,利用大地電導(dǎo)率儀測(cè)得視電導(dǎo)率數(shù)據(jù)、圈定不良地質(zhì)體邊界水平位置、利用電阻率成像法測(cè)得視電阻率數(shù)據(jù)、通過(guò)反演算法計(jì)算得到電阻率數(shù)據(jù)、圈定不良地質(zhì)體掩埋深度、確定不良地質(zhì)體地下三維空間展布。本發(fā)明所述的一種利用視電導(dǎo)率和電阻率圈定不良地質(zhì)體邊界的方法通過(guò)視電導(dǎo)率及電阻率信息圈定不良地質(zhì)體邊界,方法簡(jiǎn)單、快速。本發(fā)明在提高工作效率的同時(shí),可以對(duì)不良地質(zhì)體三維位置精確定位,保障后期安全施工。
聲明:
“利用視電導(dǎo)率和電阻率圈定不良地質(zhì)體邊界的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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