本發(fā)明提供了電池測試設備技術領域的一種測試探針自動變距方法、系統(tǒng)、設備及介質,方法包括如下步驟:步驟S10、PLC控制各探針塊復位,并分別為各測試探針設定一探針編號;步驟S20、基于
鋰電池組的電池型號,控制各探針塊聯(lián)動測試探針分別移動到一巴片的正上方;步驟S30、PLC將各測試探針的探針位置、探針編號以及電池型號寫入探針塊攜帶的RFID
芯片內;步驟S40、PLC控制各探針塊復位,基于所述電池型號從RFID芯片讀取對應的探針位置以及探針編號,進而控制各測試探針進行自動變距。本發(fā)明的優(yōu)點在于:極大的提升了測試探針變距效率。
聲明:
“測試探針自動變距方法、系統(tǒng)、設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)