本發(fā)明公開(kāi)了一種電池原位測(cè)試系統(tǒng),涉及精密儀器技術(shù)領(lǐng)域,包括充放電模塊、環(huán)境模塊和力學(xué)加載模塊,待測(cè)試電池與充放電模塊電連接,環(huán)境模塊包括溫控箱,溫控箱內(nèi)設(shè)置有待測(cè)試電池、光學(xué)成像模塊、紅外熱成像模塊和超聲掃描成像模塊,力學(xué)加載模塊用于對(duì)待測(cè)試電池進(jìn)行加載。本發(fā)明通過(guò)環(huán)境模塊模擬測(cè)試環(huán)境,光學(xué)成像模塊對(duì)待測(cè)試電池表面微觀變形或損傷進(jìn)行觀測(cè);紅外熱成像模塊對(duì)待測(cè)試電池的溫度畸點(diǎn)的識(shí)別以及待測(cè)試電池?zé)崾Э氐倪M(jìn)程進(jìn)行觀測(cè);超聲掃描成像模塊對(duì)待測(cè)試電池的破損、析鋰以及荷電狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)測(cè)。本發(fā)明為揭示力?低溫?
電化學(xué)耦合多外場(chǎng)下電池性能衰退機(jī)制和服役壽命變化規(guī)律提供儀器支撐。
聲明:
“電池原位測(cè)試系統(tǒng)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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