本發(fā)明涉及非水電解質(zhì)二次電池及其負(fù)極的檢查方法、制造方法、負(fù)極的檢查裝置及制造裝置,特別涉及將硅(SI)和硅化合物等具有高容量密度的活性物質(zhì)用于負(fù)極的非水電解質(zhì)二次電池的性能的穩(wěn)定化。在所述非水電解質(zhì)二次電池用負(fù)極的檢查方法中,將X射線照射于活性物質(zhì)層上,其中所述活性物質(zhì)層在由包含銅、鎳、鈦、鐵之中的至少任一種的金屬構(gòu)成的集電體上,且由硅、或能夠以
電化學(xué)的方式嵌入和脫嵌鋰離子的組成已知的硅化合物構(gòu)成;并且對由所述活性物質(zhì)層產(chǎn)生的熒光X射線中的、作為集電體中含有的金屬的熒光X射線的CU KΑ線、NI KΑ線、TI KΑ線、FE KΑ線之中的任一種的衰減量進(jìn)行測定。
聲明:
“非水電解質(zhì)二次電池及其負(fù)極的檢查方法、制造方法、負(fù)極的檢查裝置及制造裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)