本發(fā)明公開一種基于電阻抗成像損傷監(jiān)測的
復(fù)合材料強(qiáng)度預(yù)測方法。所述基于電阻抗成像損傷監(jiān)測的復(fù)合材料強(qiáng)度預(yù)測方法包括:一、電阻抗成像損傷檢測步驟組建用于電流激勵(lì)和電壓測量的電極陣列到被測結(jié)構(gòu)件的外形邊界;采集電極上的數(shù)據(jù)并處理,利用測量得到的數(shù)據(jù)重建構(gòu)件電阻率分布圖像并以圖形的方式顯示,利用結(jié)構(gòu)內(nèi)部損傷狀況與結(jié)構(gòu)內(nèi)部電阻率分布的映射關(guān)系,實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)損傷的實(shí)時(shí)檢測;二、結(jié)構(gòu)強(qiáng)度實(shí)時(shí)預(yù)測分析步驟將電阻抗成像損傷檢測步驟得到的損傷實(shí)時(shí)檢測結(jié)果與有限元漸進(jìn)損傷強(qiáng)度分析理論相結(jié)合實(shí)現(xiàn)結(jié)構(gòu)強(qiáng)度預(yù)測;融合接近未知真實(shí)損傷狀況的結(jié)構(gòu)件損傷檢測信息,實(shí)現(xiàn)在有損傷情況下對結(jié)構(gòu)件損傷后剩余強(qiáng)度的準(zhǔn)確預(yù)測。
聲明:
“基于電阻抗成像損傷監(jiān)測的復(fù)合材料強(qiáng)度預(yù)測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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