一種陶瓷基
復(fù)合材料應(yīng)力氧化界面消耗長度觀測方法,可以直觀觀測陶瓷基小復(fù)合材料基體裂紋處界面消耗長度分布,解決了高溫應(yīng)力氧化環(huán)境下界面消耗長度難以試驗獲取的技術(shù)難題。本發(fā)明基于掃描電子顯微鏡和能譜儀等儀器,對陶瓷基小復(fù)合材料在應(yīng)力氧化環(huán)境下基體裂紋處界面消耗長度分布進行觀測,操作簡單,測試結(jié)果準(zhǔn)確。本發(fā)明提供的實施方案簡單易施,測試成本低且固有通用性,不僅適用于陶瓷基小復(fù)合材料界面消耗長度的觀測,也適用于其他單向陶瓷基復(fù)合材料界面消耗長度的觀測。本發(fā)明提供的觀測方案解決了陶瓷基小復(fù)合材料在應(yīng)力氧化環(huán)境下細(xì)觀力學(xué)建模的關(guān)鍵參數(shù)獲取問題,對于進一步模擬材料氧化后的剩余力學(xué)性能奠定了堅實的基礎(chǔ)。
聲明:
“陶瓷基復(fù)合材料應(yīng)力氧化界面消耗長度觀測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)