本發(fā)明提供了一種航天
復(fù)合材料缺陷定位與識(shí)別方法及系統(tǒng),包括以下步驟:步驟S1:構(gòu)建用于定位和識(shí)別航天復(fù)合材料缺陷的檢測(cè)網(wǎng)絡(luò);步驟S2:檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)在ImageNet數(shù)據(jù)集上預(yù)訓(xùn)練,獲取骨干網(wǎng)絡(luò)和特征提取網(wǎng)絡(luò)的預(yù)訓(xùn)練權(quán)重值;步驟S3:獲取航天復(fù)合材料缺陷圖像樣本,并標(biāo)注圖像樣本的標(biāo)簽;步驟S4:將圖像樣本集和標(biāo)簽輸入到整個(gè)檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)中訓(xùn)練,得到檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)的權(quán)重和缺陷位置和類(lèi)別信息;步驟S5:獲取待檢測(cè)的航天復(fù)合材料缺陷圖像輸入檢測(cè)網(wǎng)絡(luò),計(jì)算得到待檢測(cè)圖像中的缺陷位置和缺陷類(lèi)別信息。本發(fā)明對(duì)含有航天復(fù)合材料缺陷的圖像進(jìn)行缺陷定位和識(shí)別,解決了人工識(shí)別含有航天復(fù)合材料缺陷的X射線圖片時(shí)實(shí)時(shí)性不強(qiáng)的難題,同時(shí)保證了缺陷識(shí)別的精度。
聲明:
“航天復(fù)合材料缺陷定位與識(shí)別方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)