本發(fā)明屬電光
功能材料制備領(lǐng)域,涉及一種液晶盒厚測量方法及裝置。本發(fā)明方法不需要通過透射光譜的極大和極小所對(duì)應(yīng)的波長值來確定液晶盒厚度,從而免去了尋找透射光譜極大和極小值的不確定性。本發(fā)明采用了匯聚光束,有利于提高信噪比。光錐在液晶盒上的截面可以很小,有利于測量盒厚的面分布。本發(fā)明采用測量裝置測量液晶盒厚。所述裝置包括:光源,聚光透鏡,待測液晶盒,光纖耦合頭,光譜測量儀。本發(fā)明采用的白光LED在可見光500-550nm范圍內(nèi)具有較平坦的發(fā)光譜,從而有利于簡化測量系統(tǒng),同時(shí)計(jì)算也很方便。
聲明:
“液晶盒厚測量方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)