本發(fā)明是一種具有光、電、熱性能的功能材料基元的篩選方法。所述方法為確定不同溫度下材料基元的晶格的常數(shù)；構(gòu)建材料基元的晶胞模型；對(duì)材料基元的光學(xué)性質(zhì)、導(dǎo)熱性質(zhì)和導(dǎo)電性質(zhì)進(jìn)行計(jì)算，獲得材料基元的性能與溫度的關(guān)系，并構(gòu)造數(shù)據(jù)庫；根據(jù)實(shí)際應(yīng)用需求篩選出具有指定性性能的功能基元；預(yù)測(cè)材料基元的熱穩(wěn)定性。本發(fā)明通過計(jì)算溫度對(duì)晶格參數(shù)的影響，獲得不同溫度下材料體系的結(jié)構(gòu)變化，進(jìn)而建立溫度與材料的結(jié)構(gòu)、性能之間的理論關(guān)系，為設(shè)計(jì)不同溫度下具有特殊性能的材料提供重要的理論指導(dǎo)，避免大量的試錯(cuò)實(shí)驗(yàn)。該發(fā)明可用于光、電、熱、光熱、光電、熱電等材料相關(guān)的應(yīng)用領(lǐng)域以及滿足空間極端環(huán)境的航空航天方面的相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域。