本發(fā)明公開了一種提高EEPROM良率和讀取可靠性的方法,該方法通過確定參考單元電流區(qū)間來設定參考單元電流的值,從而實現(xiàn)對參考單元電流值的平移,克服了由于參考單元電流設定固定值而帶來的可能使EEPROM單元在測試中出現(xiàn)大批失效的問題,提高了測試良率;同時該方法通過首先采用選取參考單元電流區(qū)間的最小值來測試EEPROM的“1”狀態(tài),選取參考單元電流區(qū)間的最大值來測試EEPROM的“0”狀態(tài)”的步驟可先篩選出少數(shù)失效的EEPROM單元,從而預留出讀取EEPROM“1”狀態(tài)和“0”狀態(tài)的檢測余量,提高了出廠后EEPROM讀取的可靠性。
聲明:
“提高EEPROM良率和讀取可靠性的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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