本發(fā)明涉及一種
芯片自動測試方法及系統(tǒng),所述方法包括實時記錄被測試芯片在各測試時間點的各管腳的測試值;提取所述測試值;將所述測試值與期望值進(jìn)行比較,并根據(jù)所述比較結(jié)果生成對比報告;根據(jù)所述對比報告定位所述被測試芯片的失效信息,所述失效信息包括失效管腳和所述失效管腳的失效時間點。本發(fā)明可以獲取全部失效管腳的失效時間點,便于根據(jù)失效管腳的失效時間點,對失效位置和失效原因進(jìn)行定位分析,還可以通過設(shè)置不同的期望值等,對測試值進(jìn)行全面的分析,給出更加詳細(xì)更加準(zhǔn)確的測試結(jié)果,保證測試成功率。
聲明:
“芯片自動測試方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)