本發(fā)明提供了一種測(cè)試數(shù)據(jù)深度溯源的方法，包括以下步驟：實(shí)時(shí)的從服務(wù)器上獲取與被測(cè)產(chǎn)品相關(guān)的信息；通過(guò)正則表達(dá)式讀取從所述服務(wù)器上獲取的所述信息，并將所述信息里的關(guān)鍵信息分類存儲(chǔ)，并繪制良率圖；根據(jù)所述良率圖獲取所述被測(cè)產(chǎn)品的良率、失效分布狀況、所述被測(cè)產(chǎn)品上失效芯片的具體失效信息以及所述被測(cè)產(chǎn)品上測(cè)試通過(guò)測(cè)試的芯片的具體信息。通過(guò)正則表達(dá)式對(duì)所述被測(cè)產(chǎn)品相關(guān)的關(guān)鍵信息進(jìn)行分類存儲(chǔ)，并繪制良率圖，工程師可以根據(jù)良率圖很直觀的看出所述被測(cè)產(chǎn)品的良率及失效分布狀況；可以獲取所述被測(cè)產(chǎn)品上失效芯片的具體失效信息，提高失效分析的效率；還可以獲取通過(guò)測(cè)試的芯片的具體測(cè)試信息，提高正常的數(shù)據(jù)分析效率。