本發(fā)明提出一種內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)的自檢修補(bǔ)法，步驟如下：將預(yù)期數(shù)據(jù)依地址依次增大的排列順序輸入到存儲(chǔ)器存儲(chǔ)陣列中；優(yōu)化內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)；內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)記錄存儲(chǔ)器存儲(chǔ)陣列的起始地址，并對(duì)存儲(chǔ)器存儲(chǔ)陣列中的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)依輸入方式進(jìn)行數(shù)據(jù)讀取，且將每次依地址讀取的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的每一位數(shù)據(jù)依次與內(nèi)建自測(cè)系統(tǒng)中以地址所對(duì)應(yīng)的字節(jié)數(shù)為單位、依輸入方式預(yù)先存儲(chǔ)的預(yù)期數(shù)據(jù)的每一位數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，依次輸出每一地址的比較結(jié)果，當(dāng)比較結(jié)果表示為內(nèi)容不一致時(shí)，確定所述比較結(jié)果對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)陣列的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為失效地址，則將冗余陣列修復(fù)失效地址的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)。本發(fā)明可快速判斷存儲(chǔ)器的失效地址，并通過冗余陣列修補(bǔ)該存儲(chǔ)器的當(dāng)前失效地址，縮短測(cè)試時(shí)間。