本發(fā)明公開了一種RAM失效的檢測處理方法、裝置和系統(tǒng),應用于對中央處理器CPU/數(shù)字信號處理器DSP的RAM失效的檢測處理。其中,該方法包括:獲取所述RAM中的程序內(nèi)容,將獲取的程序內(nèi)容與正確的程序內(nèi)容進行比對,若所述RAM中程序內(nèi)容的錯誤率低于預定值,則使用正確的程序內(nèi)容對發(fā)生錯誤的程序內(nèi)容進行數(shù)據(jù)修復;通過檢測數(shù)據(jù)修復后的CPU/DSP的數(shù)據(jù)處理情況,評估所述數(shù)據(jù)修復是否成功,若所述評估結(jié)果為數(shù)據(jù)修復失敗,則通過復位的方式重新加載RAM中的程序內(nèi)容進行修復。采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案,能夠在及時準確發(fā)現(xiàn)RAM失效的基礎(chǔ)上進行自動修復,將RAM失效對業(yè)務的影響將至最低,并降低人工成本。
聲明:
“隨機存儲器失效的檢測處理方法、裝置和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)