本發(fā)明公開了一種太赫茲探測陣列校準系統(tǒng)及方法,屬于太赫茲探測校準技術領域,包括校準組件、旋轉驅動組件和導電組件,所述校準組件包括常溫輻射板與高溫輻射板,所述常溫輻射板與所述高溫輻射板尺寸相同正對設置,所述常溫輻射板與所述高溫輻射板的兩端均對應連接,所述旋轉驅動組件與所述常溫輻射板、所述高溫輻射板的一端連接。本發(fā)明利用常溫輻射板和高溫輻射板輻射的太赫茲波的強度的不同,對太赫茲探測陣列中各個通道單元進行校準,有效的解決現有太赫茲探測陣列定標過程復雜,并且隨著溫度環(huán)境的變化需重復定標等缺點,可在太赫茲安檢、太赫茲無損探傷和太赫茲雷達等領域得到廣泛的應用。
聲明:
“太赫茲探測陣列校準系統(tǒng)及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
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