本發(fā)明公開了一種基于剪切散斑干涉技術(shù)的復(fù)雜表面無損檢測系統(tǒng)及方法,包括光照模塊、剪切散斑測量模塊、控制及信號處理模塊;光照模塊發(fā)出出射光以照射在被測物體表面待檢測區(qū)域;剪切散斑測量模塊采集被測物體漫反射的光進而形成剪切散斑干涉圖,并將剪切散斑干涉圖提供給控制及信號處理模塊,控制及信號處理模塊進行處理并提取缺陷信息。
聲明:
“基于剪切散斑干涉技術(shù)的復(fù)雜表面無損檢測系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)