本發(fā)明公開了一種校正解離度的方法,所用的基礎數(shù)據(jù)包括微觀手段下實測的解離數(shù)據(jù)和物理化學等方法實測的金屬元素品位,將欲測的某一粒級物料混勻,取兩份具有代表性的試樣,其中一份制片,在微觀手段下遵照常規(guī)方法按網(wǎng)格讀取并記錄每個顆粒的解離情況,此法記錄的數(shù)據(jù)作為被校正的基礎數(shù)據(jù),另一份磨細、化驗其中金屬元素的品位,化驗所得數(shù)據(jù)作為校正數(shù)據(jù),通過指定的校正方法進行計算,最終得到校正后的解離度。該簡易校正解離度的計算方法可修正直接觀察法測得的解離度數(shù)據(jù),使之更接近于理論值,對后續(xù)磨礦選別作業(yè)具有更準確的指導意義。
聲明:
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