本申請(qǐng)公開(kāi)了一種電極材料一致性判定方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。其中,電極材料一致性判定方法包括:對(duì)待測(cè)材料進(jìn)行多次
電化學(xué)測(cè)試,得到多組測(cè)試參數(shù)組;從任一組所述測(cè)試參數(shù)組中確定目標(biāo)電壓參數(shù)范圍,將所述目標(biāo)電壓參數(shù)范圍中至少一個(gè)所述候選電壓參數(shù)作為第一目標(biāo)參數(shù);從多組所述測(cè)試參數(shù)組中得到與所述第一目標(biāo)參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述候選電流參數(shù),將所述候選電流參數(shù)作為第二目標(biāo)參數(shù);根據(jù)多個(gè)第二目標(biāo)參數(shù)計(jì)算得到判定參數(shù);將所述判定參數(shù)與預(yù)設(shè)的基準(zhǔn)參數(shù)進(jìn)行比較,根據(jù)比較結(jié)果對(duì)所述待測(cè)材料的一致性進(jìn)行判定。本申請(qǐng)能夠避免對(duì)待測(cè)材料的多項(xiàng)參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試,從而提高了待測(cè)材料一致性的判定效率。
聲明:
“電極材料一致性判定方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)