本申請實施例提供一種病害地質體檢測的方法、裝置及電子設備,其中,在獲取到待檢測地質體所在空間的探地雷達波場數(shù)據(jù)后,利用Seislet變換對探地雷達波場數(shù)據(jù)進行整形正則化處理,得到繞射波分離數(shù)據(jù),對繞射波分離數(shù)據(jù)進行偏移成像,得到待檢測地質體的成像結果;根據(jù)成像結果對待檢測地質體進行病害檢測。本申請能夠利用Seislet變換對探地雷達波場數(shù)據(jù)進行整形正則化處理,從探地雷達波場數(shù)據(jù)中充分分離出繞射波分離數(shù)據(jù),再利用繞射波分離數(shù)據(jù)進行偏移成像,從而能夠根據(jù)成像結果對地質體的病害進行精確檢測。
聲明:
“病害地質體檢測的方法、裝置及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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