本發(fā)明涉及一種隔膜表面銅枝晶的分析方法。該分析方法包括以下步驟:1)將拆解鋰離子電池得到的隔膜進(jìn)行清洗,得到待測樣品;2)使用原子力顯微鏡對(duì)待測樣品進(jìn)行掃描,依據(jù)掃描圖像分析得到待測樣品上銅枝晶的分布和生長高度。本發(fā)明提供的隔膜表面銅枝晶的分析方法,通過對(duì)隔膜進(jìn)行清洗、原子力顯微鏡分析,實(shí)現(xiàn)了隔膜上生長銅枝晶的精細(xì)表征分析,該方法可以同時(shí)對(duì)銅枝晶的分布和生長高度進(jìn)行表征,可以為相關(guān)基礎(chǔ)理論研究或電池性能的優(yōu)化提供有效支持。
聲明:
“隔膜表面銅枝晶的分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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