本發(fā)明提供了一種航天器熱控回路集成電性能測試系統(tǒng)、方法及介質,涉及衛(wèi)星檢測技術領域,該方法包括:上位機、測試主機、
鋰電池及測試轉接電纜;所述測試主機分別連接所述上位機、鋰電池和測試轉接電纜;所述鋰電池為測試主機供電;所述測試主機通過測試轉接電纜與待測產(chǎn)品構成測試回路。本發(fā)明能夠提高測試效果和測試效率,降低工作人員勞動強度的效果。
聲明:
“航天器熱控回路集成電性能測試系統(tǒng)、方法及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)