本公開涉及一種冒裂帶高度預(yù)測方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備,該方法包括:獲取冒裂帶的實(shí)際測量數(shù)據(jù),實(shí)際測量數(shù)據(jù)包括在
采礦工作面實(shí)際測量得到的冒裂帶的第一高度數(shù)據(jù)和冒裂帶的多個(gè)震動(dòng)點(diǎn)的震動(dòng)數(shù)據(jù);通過第一高度數(shù)據(jù)和震動(dòng)數(shù)據(jù),確定冒裂帶高度范圍;通過第一高度數(shù)據(jù)與冒裂帶高度范圍,將多個(gè)震動(dòng)點(diǎn)確定為已產(chǎn)生冒裂帶位置點(diǎn)與未產(chǎn)生冒裂帶位置點(diǎn);通過已產(chǎn)生冒裂帶位置點(diǎn)的數(shù)據(jù)與未產(chǎn)生冒裂帶位置點(diǎn)的數(shù)據(jù),確定冒裂帶預(yù)測模型;將待識(shí)別位置的實(shí)測震動(dòng)數(shù)據(jù)輸入冒裂帶預(yù)測模型,得到待識(shí)別位置的預(yù)測結(jié)果,預(yù)測結(jié)果包括:待識(shí)別位置未產(chǎn)生冒裂帶,或者待識(shí)別位置產(chǎn)生冒裂帶,以及待識(shí)別位置點(diǎn)的冒裂帶的第二高度數(shù)據(jù)。
聲明:
“冒裂帶高度預(yù)測方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)