本發(fā)明涉及
磷酸鐵鋰電極材料的高低溫原位XRD分析測試方法,包括有以下步驟:利用普通實(shí)驗(yàn)室的X射線光源,設(shè)置原位測試程序以每三十秒獲得一幅高溫測試模具或低溫測試模具中的磷酸鐵鋰的XRD圖樣,且設(shè)置二維面探XRD的觀測角度為17°;持續(xù)這個過程1000次,即可完成XRD測試程序。本發(fā)明中不需要拆卸電池,即可完成對電極材料的原位XRD表征,同時完成溫度變量對電極材料的影響探究。本文揭示了磷酸鐵鋰電極材料的低溫劣化性能是因?yàn)槠湓诘蜏叵戮Ц褡枣i和低溫下離子遷移擴(kuò)散速率變低。因此在過電勢較大或者極化很大情況下依然無法實(shí)現(xiàn)鋰離子的快速遷移以及充電或放電深度的增加。
聲明:
“磷酸鐵鋰電極材料的高低溫原位XRD分析測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)