本發(fā)明公開(kāi)了一種基于紅外光譜和磁化率測(cè)量的斑巖礦床蝕變分帶識(shí)別方法,它包括:步驟1、野外地質(zhì)勘測(cè);步驟2、根據(jù)勘測(cè)結(jié)果確定樣品采樣點(diǎn);步驟3、獲取樣品SWIR光譜數(shù)據(jù);步驟4、分析解譯樣品SWIR光譜數(shù)據(jù);步驟5、建立礦區(qū)蝕變礦物光譜匹配庫(kù),得到含水礦物蝕變分帶標(biāo)志;步驟6、獲取樣品磁化率數(shù)據(jù);步驟7、偏光顯微鏡下觀察及XRD數(shù)據(jù)驗(yàn)證,得到鉀化帶標(biāo)志;步驟8、建立SWIR和磁化率綜合分帶標(biāo)準(zhǔn);步驟9、劃分平面及剖面蝕變分帶;步驟10、提取SWIR及磁化率找礦指標(biāo);解決了難以利用短波紅外光譜測(cè)量技術(shù)準(zhǔn)確識(shí)別鉀化帶等技術(shù)問(wèn)題。
聲明:
“基于紅外光譜和磁化率測(cè)量的斑巖礦床蝕變分帶識(shí)別方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)