本發(fā)明公開了一種基于原子力顯微鏡探針的力學(xué)性能測試方法,方法包括:將原子力顯微鏡探針固定于掃描電子顯微鏡原位檢測裝置的Z軸移動平臺的頂端,并將由
碳納米管及樹脂
復(fù)合材料組成的樣品放置在樣品放置區(qū);移動X軸移動平臺及Y軸移動平臺,將原子力顯微鏡探針與樣品接觸后通過電子束照射粘接;啟動電子顯微鏡的錄像,并移動X軸移動平臺及Y軸移動平臺將樣品中的單根碳納米管拔出;根據(jù)錄像中的多幀連續(xù)圖像獲取單根碳納米管被拔出時原子力顯微鏡探針的位移,及原子力顯微鏡探針的彈性系數(shù),得到單根碳納米管與樹脂間的界面力學(xué)性能。本發(fā)明實現(xiàn)了對材料的由納米尺度到微米尺度的動態(tài)原位觀測,又可以同時對其力學(xué)等性能進(jìn)行測試。
聲明:
“基于原子力顯微鏡探針的力學(xué)性能測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)