本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域,具體的說是一種遠(yuǎn)紅外納米陶瓷
復(fù)合材料無損檢測方法及其設(shè)備,包括基板、支撐腳、擠壓機(jī)構(gòu)、檢測機(jī)構(gòu)、定位機(jī)構(gòu)和氨合成塔,本發(fā)明對于在高溫、高壓、臨氫的環(huán)境下,采用聲發(fā)射技術(shù)對材料損傷過程進(jìn)行檢測,針對氨合成塔外壁材料的工作環(huán)境,模擬氫原子滲透及穿透材料的遷移過程,考察了氫原子在缺口位置的富集對材料缺口敏感性的影響,根據(jù)缺口位置氫原子的濃度對位錯發(fā)射及材料韌脆轉(zhuǎn)變的機(jī)理,結(jié)合聲發(fā)射手段對損傷過程進(jìn)行檢測。
聲明:
“遠(yuǎn)紅外納米陶瓷復(fù)合材料無損檢測方法及其設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)