本發(fā)明屬于地質(zhì)物探領(lǐng)域,尤其涉及一種三維電阻率層析成像方法及系統(tǒng)。其中,三維電阻率層析成像方法包括采用至少兩種勘探方式分別對含有地質(zhì)異常體區(qū)域進(jìn)行勘探,獲得相應(yīng)探測平面的二維電阻率數(shù)據(jù);統(tǒng)一所有勘探方式獲得的電阻率數(shù)據(jù)點(diǎn)的坐標(biāo)系,提取坐標(biāo)相同的數(shù)據(jù)點(diǎn);利用主成分分析法對提取的相同位置的電阻率數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)融合;將融合后得到的電阻率數(shù)據(jù)進(jìn)行三維坐標(biāo)轉(zhuǎn)換形成三維模型。
聲明:
“三維電阻率層析成像方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)