本發(fā)明公開(kāi)了一種碳/碳化硅
復(fù)合材料內(nèi)部缺陷厚度測(cè)量方法,設(shè)計(jì)并制備厚度梯度變化的缺陷材料標(biāo)樣,利用X射線照相檢測(cè)標(biāo)樣,將照相底片掃描成電子圖片得到其灰度圖像;編程計(jì)算得到圖像各缺陷區(qū)域與無(wú)缺陷區(qū)域灰度的比值,建立缺陷厚度與對(duì)應(yīng)灰度比值標(biāo)定函數(shù)關(guān)系式;再利用標(biāo)定函數(shù)去計(jì)算同種材料在相同檢測(cè)條件下缺陷的厚度,實(shí)現(xiàn)缺陷厚度的定量測(cè)量。本方法克服了傳統(tǒng)X射線照相無(wú)損檢測(cè)方法檢測(cè)缺陷厚度過(guò)程中使用黑度計(jì)一次檢測(cè)面積小、誤差大、測(cè)量效率低等缺點(diǎn),建立材料缺陷厚度與缺陷灰度和無(wú)缺陷灰度比值的標(biāo)定函數(shù)關(guān)系,實(shí)現(xiàn)該種材料缺陷厚度的定量測(cè)量,檢測(cè)效率高、精度較高。
聲明:
“碳/碳化硅復(fù)合材料內(nèi)部缺陷厚度測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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