本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。利用
復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷區(qū)域和非缺陷區(qū)域與CT密度值的關(guān)系,通過預(yù)置缺陷的方式,得出不同類型缺陷對應(yīng)的CT密度降值;通過比對CT密度降值,識別缺陷的類型。本發(fā)明涉及的采用無損檢測方法識別復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷類型的方法,包含工業(yè)CT檢測系統(tǒng)校準、斷層CT檢測與密度降值計算、缺陷類型識別過程,對樣品進行斷層CT檢測與密度降值計算,將缺陷區(qū)域的CT密度降值與已知缺陷的CT密度降值進行比較,得出缺陷類型。該方法,操作方便、可靠性高、適用性廣、識別速度快,人為誤判少等優(yōu)點。適用于復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷的X射線斷層CT無損檢測領(lǐng)域,特別適用于復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷類型的識別。
聲明:
“識別復(fù)合材料制品內(nèi)部缺陷類型的無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)