本發(fā)明公開(kāi)了一種C/SiC
復(fù)合材料腐蝕狀態(tài)的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)和方法,系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、光纖光柵解調(diào)儀、光纖耦合器、碳物質(zhì)消耗傳感探頭、碳化硅物質(zhì)消耗傳感探頭、第一光纖連接器、第一傳感光纖、第二光纖連接器和第二傳感光纖,計(jì)算機(jī)和光纖光柵解調(diào)儀相連,光纖耦合器包括光纖耦合器輸入端和多個(gè)光纖耦合器輸出端,光纖耦合器輸入端與光纖光柵解調(diào)儀相連;一個(gè)光纖耦合器輸出端與第一光纖連接器、第一傳感光纖、碳物質(zhì)消耗傳感探頭相連,另一個(gè)光纖耦合器輸出端與第二光纖連接器、第二傳感光纖、碳化硅物質(zhì)消耗傳感探頭相連。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)C/SiC復(fù)合材料腐蝕狀態(tài)的實(shí)時(shí)在線監(jiān)測(cè),可應(yīng)用于航空、艦船領(lǐng)域的C/SiC復(fù)合材料腐蝕狀態(tài)監(jiān)測(cè)。
聲明:
“C/SiC復(fù)合材料腐蝕狀態(tài)的監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及監(jiān)測(cè)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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