本發(fā)明公開了材料和光電子技術領域的一種利用高介電常數(shù)
復合材料實現(xiàn)光隔離的方法和器件。所述利用高介電常數(shù)復合材料實現(xiàn)光隔離的器件為一維單缺陷磁光光子晶體結構,其結構式為:G
1G
2G
1G
2G
1G
2MG
1G
2G
1G
2G
1G
2G
1G
2G
1G
2G
1G
2G
1,其中:G
1為低介電常數(shù)材料,G
2為高介電常數(shù)復合材料,M是摻鉍釔鐵石榴石。本發(fā)明解決了現(xiàn)有反射型磁光多層膜隔離器設計受限于已有材料電磁參量的問題。與現(xiàn)有的、在中心波長1.053微米處實現(xiàn)光隔離的一維單缺陷磁光子晶體結構相比,本發(fā)明所得結構總膜層數(shù)較少,降低了實際制備難度,結構的總厚度約為5.1微米,方便光路集成。同時,上述利用高介電常數(shù)復合材料實現(xiàn)光隔離的器件易于設計優(yōu)化反射型磁光多層膜隔離器性能。
聲明:
“利用高介電常數(shù)復合材料實現(xiàn)光隔離的方法和器件” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)