本發(fā)明提供一種測(cè)量含孔隙
復(fù)合材料孔隙率的方法,包括:基于含孔隙復(fù)合材料的CT圖像獲得對(duì)應(yīng)的灰度分布圖;確定考察區(qū)間[x0,x10]提供一系列灰度閾值梯度值xn,并計(jì)算復(fù)合材料的孔隙率zn;令(Xn,Yn)=(logxn,zn),并按Xn由小至大對(duì)散點(diǎn)(X0,Y0)至(Xu,Yu)進(jìn)行排序,對(duì)其中的前m個(gè)散點(diǎn)進(jìn)行一元線性回歸,求解線性回歸相關(guān)系數(shù)Rm2;提取一個(gè)符合預(yù)設(shè)條件的k值;對(duì)散點(diǎn)(X0,Y0)至(Xu,Yu)中的前k個(gè)散點(diǎn)進(jìn)行一元線性回歸,獲得第一線性方程;對(duì)第k+1和第k+2個(gè)散點(diǎn)進(jìn)行一元線性回歸,獲得第二線性方程;求解第一線性方程和第二線性方程的交點(diǎn)(Xk′,Yk′),再根據(jù)關(guān)系Xk′=logxk′求解xk′;基于xk′分割CT圖像,計(jì)算復(fù)合材料的孔隙率。
聲明:
“測(cè)量含孔隙復(fù)合材料孔隙率的方法、裝置和計(jì)算機(jī)可讀取介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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