本發(fā)明涉及基于超聲相控陣的薄板三維機織層合板
復合材料試件內部缺陷檢測方法,包括:1)對試件進行100%掃查,得到三維機織層合板復合材料試件分別在同時激發(fā)4,8,16個晶片的條件下得到的超聲檢測結果圖;2)對薄板機織層合板復合材料進行橫縱向方向超聲掃描得到檢測圖,得到相控陣設置最優(yōu)參數;3)在參數設置最優(yōu)條件下得到超聲回波A掃波形圖、B掃圖像以及C掃圖像;4)針對C掃得到的缺陷掃查圖進行定量分析,結果表明,該檢測方法可用于三維機織層合板復合材料的無損檢測及其內部缺陷的初步評價。
聲明:
“基于超聲相控陣的薄板三維機織層合板復合材料試件內部缺陷檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)