本發(fā)明提供一種
復(fù)合材料層的參數(shù)擬合計算方法及系統(tǒng),方法包括:a、獲取待測樣品的測量光譜,待測樣品包括復(fù)合材料層;b、根據(jù)復(fù)合材料層的參數(shù),基于有效介質(zhì)EMA通用模型擬合計算待測樣品的擬合光譜;c、若擬合光譜達到所述測量光譜的精度要求,則獲取復(fù)合材料層的參數(shù);若擬合光譜未達到測量光譜的精度要求,則調(diào)整復(fù)合材料層的參數(shù),重復(fù)執(zhí)行b和c進行迭代,直到擬合光譜達到所述測量光譜的精度要求,獲取復(fù)合材料層的參數(shù)。本發(fā)明構(gòu)建有效介質(zhì)EMA通用模型,可以通過調(diào)整復(fù)合材料層的參數(shù),來迭代計算待測樣品的擬合光譜,調(diào)整參數(shù)時不因為某一種或幾種具體模型的限制,可適用于包含任何復(fù)合材料層的待測樣品參數(shù)的獲取。
聲明:
“復(fù)合材料層的參數(shù)擬合計算方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)