本發(fā)明涉及一種氧化環(huán)境中單向C/SiC
復(fù)合材料細(xì)觀應(yīng)力的檢測方法,用于解決現(xiàn)有的單向C/SiC復(fù)合材料細(xì)觀應(yīng)力的檢測方法應(yīng)力分析準(zhǔn)確度差的技術(shù)問題。技術(shù)方案是應(yīng)用氧化反應(yīng)動力學(xué)方程模擬微結(jié)構(gòu)氧化過程,得到了復(fù)合材料微結(jié)構(gòu)在不同氧化時(shí)刻下的幾何模型;建立氧化后的微結(jié)構(gòu)有限元模型,進(jìn)行細(xì)觀應(yīng)力的有限元計(jì)算,從建模到計(jì)算的整個(gè)過程簡潔高效,克服了實(shí)驗(yàn)方法成本高、耗時(shí)長的缺點(diǎn);借助于ANSYS強(qiáng)大的后處理功能,準(zhǔn)確的顯示細(xì)觀應(yīng)力場在氧化后復(fù)合材料微結(jié)構(gòu)內(nèi)的復(fù)雜分布,提高了單向C/SiC復(fù)合材料細(xì)觀應(yīng)力的檢測方法應(yīng)力分析的準(zhǔn)確度,解決了細(xì)觀力學(xué)模型精度低、缺乏應(yīng)力分布準(zhǔn)確描述的問題。
聲明:
“氧化環(huán)境中單向C/SiC復(fù)合材料細(xì)觀應(yīng)力的檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)