本發(fā)明公開了一種透射式全穆勒矩陣光譜橢偏儀及其測量方法,方法是將起偏臂產(chǎn)生的調(diào)制光線投射到待測樣件表面,檢偏臂將待測樣件反射(或透射)的光線解調(diào)并接收,通過對測量光譜進行諧波分析,計算獲得待測樣件的全穆勒矩陣信息,并通過非線性回歸,庫匹配等算法擬合提取待測樣件的光學常數(shù),特征形貌尺寸等信息。橢偏儀包括起偏臂(包括光源,透鏡組,起偏器和伺服電機驅動的補償器),待測樣件和檢偏臂(包括伺服電機驅動的補償器,檢偏器,透鏡組和光譜儀)。本發(fā)明可實現(xiàn)各種信息光電子
功能材料和器件,以及納米制造中各種納米結構的在線測量,具有非破壞性,快速和低成本的特點。
聲明:
“透射式全穆勒矩陣光譜橢偏儀及其測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)