提供一種用于冶金、無(wú)損測(cè)試的便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備(100),所述便攜、獨(dú)立的掃描儀設(shè)備(100)包括:底架(102),其具有在其較低表面之下延伸的輪子(108);可拆卸地固定到所述底架(102)上的無(wú)損測(cè)試探頭(118);和耦合到所述底架(102)上的計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)。所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)包括可以由所述計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)執(zhí)行的應(yīng)用程序,用于在測(cè)試對(duì)象(109)上執(zhí)行所述冶金無(wú)損測(cè)試。所述掃描儀設(shè)備(100)還包括顯示設(shè)備(216),所述顯示設(shè)備響應(yīng)于所述冶金、無(wú)損測(cè)試而顯示圖像。所述底架(102)、計(jì)算機(jī)處理器設(shè)備(200)和顯示設(shè)備作為單個(gè)單元沿所述測(cè)試對(duì)象(109)移動(dòng)。
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“用于冶金、無(wú)損測(cè)試的便攜掃描儀設(shè)備” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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