本發(fā)明提出了一種NOR閃存結(jié)構(gòu),在字線上設(shè)有多個(gè)斷點(diǎn)形成字線段,字線段之間相互隔離開(kāi)每個(gè)字線段均通過(guò)通孔連線與金屬連線相連,在進(jìn)行測(cè)試時(shí),金屬連線提供相應(yīng)的電壓,若金屬連線出現(xiàn)斷線缺陷,斷點(diǎn)以后的字線將得不到供壓,無(wú)論在高頻還是低頻下會(huì)導(dǎo)致操作失效,無(wú)需進(jìn)行高頻測(cè)試也能確保金屬連線的斷線缺陷測(cè)試階段全部被分揀出來(lái),從而能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn),提高分揀精度,且無(wú)需額外設(shè)備,降低分揀成本。
聲明:
“NOR閃存結(jié)構(gòu)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)