本發(fā)明公開了一種加速度傳感器
芯片生產(chǎn)校驗補償方法,加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗補償方法旨在用于加速度傳感器芯片批量生產(chǎn)測試,加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗補償方法是用校準(zhǔn)過的成品加速度傳感器芯片做參考,成品加速度傳感器芯片和待測成品矩陣排列放在特定旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)臺以特定的狀態(tài)運行環(huán)境下,通過采樣對加速度傳感器芯片的ADC輸出,并與參考加速度傳感器芯片的輸出作對比和運算,將要校準(zhǔn)的參數(shù)寫入待測加速度傳感器芯片內(nèi)的存儲區(qū),再讀取加速度傳感器芯片的ADC輸出,再對比判斷該待測成品是否校準(zhǔn)成功,如果校準(zhǔn)不成功,則當(dāng)該顆待測成品為失效電路。測試設(shè)備根據(jù)該方法一次能夠并行測試多顆電路。
聲明:
“加速度傳感器芯片生產(chǎn)校驗補償方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)