一種模擬電路故障診斷方法,其包括如下步驟:(1)數(shù)據(jù)采集,即測試變量的采集,對待測電路兩個或兩個以上的可測試節(jié)點處進行電壓或者電流變量采集;(2)測試變量的極大信息熵特征方向向量逼近;(3)尋找測試變量的極大非高斯性特征方向向量;(4)計算各測試變量在其極大非高斯性特征方向向量處的投影值。本發(fā)明實現(xiàn)簡單,誤判率較低,解決了觀測變量在基于高斯性假設基礎上,所設計出的系統(tǒng)會出現(xiàn)性能下降或失效的問題,尤其適用于非高斯性分布情況。
聲明:
“模擬電路故障診斷方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)