本發(fā)明公開(kāi)了一種監(jiān)控閃存擦寫(xiě)性能的方法,采用縮緊規(guī)格的方法進(jìn)行擦寫(xiě)性能測(cè)試,包括如下步驟:(1)在擦寫(xiě)性能測(cè)試程序中設(shè)立一個(gè)較嚴(yán)的規(guī)格,使其大于實(shí)際使用規(guī)格;(2)對(duì)每個(gè)測(cè)試對(duì)象記錄在步驟(1)設(shè)立的規(guī)格下擦寫(xiě)1次時(shí)失效的擦寫(xiě)次數(shù)和重復(fù)擦寫(xiě)2次仍失效時(shí)的擦寫(xiě)次數(shù);(3)計(jì)算每個(gè)測(cè)試對(duì)象在步驟(2)中兩個(gè)記錄的擦寫(xiě)次數(shù)的比值,對(duì)該比值進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,用該比值來(lái)監(jiān)控擦寫(xiě)性能。采用本發(fā)明方法,在保證擦寫(xiě)性能監(jiān)控準(zhǔn)確性的同時(shí),能縮短擦寫(xiě)性能監(jiān)控的測(cè)試時(shí)間。
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“監(jiān)控閃存擦寫(xiě)性能的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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