本發(fā)明公開了一種密封狀態(tài)可監(jiān)測的密封組件,包括金屬內(nèi)環(huán)、圍設(shè)在所述金屬內(nèi)環(huán)外側(cè)周部的金屬外環(huán)、嵌設(shè)在所述金屬內(nèi)環(huán)與所述金屬外環(huán)之間的非金屬密封環(huán),其中通過在金屬外環(huán)上設(shè)置圍繞呈環(huán)狀的光纖傳感器,這使得密封組件在用于密封場合下整個工作的過程中,沿光纖傳感器整個周向上各點位的壓力載荷、溫度、濕度等密封狀態(tài)信息均能夠得到實時監(jiān)測,及時地獲取密封組件的壓力變化、溫度變化及濕度變化情況,從而能夠及時地對密封泄漏進(jìn)行預(yù)警,防止因密封組件的密封失效而導(dǎo)致的安全問題,同時還能夠為密封組件的后續(xù)研發(fā)提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。
聲明:
“密封狀態(tài)可監(jiān)測的密封組件” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)