本發(fā)明提供了一種光源測試裝置,包括:快切載體;其中,快切載體的承載面包括光學透鏡連接點和光源吸附導電連接點;快切載體內還包括磁性吸附結構;待測試光學透鏡通過光學膠粘附在光學透鏡連接點;光學膠在預設光照下粘附失效;磁性吸附結構將待測試光源的電極磁性吸附在光源吸附導電連接點上。本發(fā)明提供的光源測試裝置,在光學方案調整時可以實現(xiàn)光源和光學透鏡的快速切換,降低驗證成本、縮短驗證周期,此外,切換下來的光源沒有損壞,還可以重復使用。
聲明:
“光源測試裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)